圖1：MFP 2000過濾材料測試

Palas®的MFP過濾器測試臺已經在開發和質量控制的實際應用中，在世界各地經過多次驗證。

MFP過濾器測試臺是用于扁平過濾器介質和小微型過濾器的模塊化過濾器測試系統。

MFP 2000可用于確定：
•   無粉塵涂層的介質上的壓力損失曲線，
•   餾分分離效率，或
•   負荷施加過程中的負荷分離效率

在最短的時間內完成工作–可靠且具有成本效益。

氣溶膠發生器易于互換并與整個系統協調。其結果是，可以使用不同的測試氣溶膠快速輕松地執行過濾器測試。

借助光散射光譜儀Promo®2000，可以確保清晰可靠地確定氣溶膠濃度和粒徑，從而確保精確測定餾分分離效率。

測試序列的高度自動化設置以及清晰定義的單個組件和濾波器測試軟件FTControl可單獨調整的程序，共同提供高度可靠的測量結果。

我們的質量細節

圖2：MFP 2000

1.產生多種多樣的氣溶膠，這要歸功于使用不同的粉塵、KCl/NaCl、DEHS等分散劑；縮短測量時間是可能的，例如通過增加粉塵濃度

2.電暈放電（可選）：針對不同質量流量的可調離子流。混合空氣，流入速度從0.05到1 m / s可調。可選：瞬時流入。

3.移動式氣動過濾器支架，用于快速拆卸和裝載試驗臺。

4.光散射光譜儀Promo®系統集成有Windows測試裝置軟件，可在高達1000 mg / m3（SAE Fine）的濃度下進行精確的顆粒測量。

5.借助自動序列程序進行過濾器測試，即使未經培訓的人員也可以輕松操作。可以自動控制測試臺。

自動化

MFP 2000集成有質量流量控制器，可用于控制體積流量。這些可以通過FTControl過濾器測試軟件進行自動監視和控制。在過濾器測試期間，也會自動記錄集成傳感器的數據，例如過濾器的體積流量和壓差。

餾分分離效率的測量

圖3：示例：餾分分離效率比較

•   借助Promo®系統清楚地展示0.2至40 µm整個測量范圍內的過濾介質分離效率
•   憑借最高的靈敏度，我們的顆粒測量技術甚至可以顯示分離效率的細微差別。
•   優化的氣霧劑應用，每次分離效率測量的測量時間短，約為2分鐘
•   簡單的分離效率曲線比較，也可以計算平均值

采樣和布局

MFP 2000測試系統的嚴格垂直布局僅帶有一個采樣探針，即使可以排除高達40 µm的較大顆粒，也可以提供清晰的測量結果，因為可以排除沉降損失。這樣就可以在整個測量范圍內可靠地確定所有粒徑分離效率。

負荷/保持時間測量并記錄壓力損失曲線

圖4：示例：保持時間測量

•   粉塵施加過程中餾分分離效率性能測量；可以預先選擇壓力損失或測量時間作為中止標準
•   以圖表和表格形式確定和表示壓力損失曲線和保留曲線，80％和95％分離度時的粒徑顯示提供更多信息。
•   不同加料步驟中餾分分離效率比較
•   縮短測量時間，例如通過增加粉塵濃度

您可以選擇的氣霧發生器
•   RBG 1000
•   AGK 2000，具有干燥長管
•   PLG 1000

MFP 2000過濾材料測試優點：

應用：

參數：